AFM拉曼聯用系統工作模式：

1.標準工作模式：

1.1輕敲模式(Vibration mode)

1.2接觸模式(Contact mode)

1.3相位成(cheng)像(xiang)模式(Phase imaging)

1.4橫向力模式(Lateral force Microscopy LFM)

1.5力(li)曲線測試(shi)（Force curve）可測楊氏(shi)模量(liang)

1.6納米操(cao)控(kong) （Nanomanipulation）

1.7納米刻蝕 （Nanolithography）

1.8力矩陣模(mo)式 （Force Mapping）

1.9摩擦力測試(shi) （Friction Mode）

2. 可選工(gong)作模式：

2.1 磁力顯微鏡模式（MFM mode）

2.2 靜電力顯微鏡模(mo)式（EFM mode）

2.3 導(dao)電顯微鏡模式（C-AFM mode）

2.4 液相模式 （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是(shi)專(zhuan)門從事設(she)計(ji)和制(zhi)造原(yuan)子(zi)力顯(xian)(xian)微鏡(jing)的專(zhuan)業化公司 。公司創(chuang)始人(ren)是(shi)有(you)30年原(yuan)子(zi)力顯(xian)(xian)微鏡(jing)經(jing)驗的 Paul West博(bo)士，原(yuan)子(zi)力顯(xian)(xian)微鏡(jing)教材《Atomic Forces Microscopes》的作(zuo)者。

AFM拉曼聯用系統技術參數

掃描范圍：100 μm，50 μm，15μm

Z方(fang)向范(fan)圍：17 μm，7 μm

XY方向驅動分辨率：0.01 nm

Z方向驅動分辨率：0.003 nm

Z方向測(ce)量(liang)噪音水平：0.15 nm

樣品尺寸：直徑25mm