HR-AFM是一款專業級的多功能原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區三維形貌和多相結構；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數值測定與分析。

國內生產(chan)的HR-AFM原(yuan)子(zi)力(li)顯微鏡

標(biao)準(zhun)工作模(mo)式(shi)：輕敲模(mo)式(shi)(Vibration mode)，接觸模(mo)式(shi) (Contact mode)，相(xiang)位成像模(mo)式(shi) (Phase imaging)，橫向力模(mo)式(shi) (LFM)，力曲線(xian)測試(shi)（Force Curve），納(na)米操控 （Nanomanipulation），納(na)米刻蝕 （Nanolithography），力矩陣模(mo)式(shi) （Force Mapping），摩擦力測試(shi) （Friction Mode）

可選工作模式：導電(dian)原(yuan)子力(li)顯(xian)(xian)微(wei)鏡(jing) （C-AFM），磁力(li)顯(xian)(xian)微(wei)鏡(jing)（MFM），靜電(dian)力(li)顯(xian)(xian)微(wei)鏡(jing)（EFM）,掃描電(dian)勢顯(xian)(xian)微(wei)鏡(jing)（SKPM）。

多功能原子力顯微鏡具有軟件自動進針功能。通過軟件控制Z方向馬達實現探針自動進針

X,Y,Z三(san)軸(zhou)分離(li)的掃描器。

掃描范圍 100×100×17μm

Z軸分辨率0.035nm

樣(yang)品(pin)臺尺寸：25mm*25mm*18mm

操作軟(ruan)件：使用Laview環(huan)境語言控制，免費提供操作軟(ruan)件，并提供維護及升級

提供(gong)Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 數(shu)據分析系統(tong)

頂視(shi)系統光學分辨率≤2微米

視場范圍從(cong)2mm*2mm到(dao)300um*300um可調，放大倍(bei)率從(cong)45倍(bei)到(dao)400倍(bei)機械可調

側視系統(tong)，提供可(ke)視化下針，可(ke)以(yi)通過(guo)電腦精確觀(guan)察控(kong)制下針過(guo)程(cheng)，防止撞針