NP-AFM原子力顯微鏡

主要優勢：

1、全新設(she)計的KMD運動學結構，降低(di)了(le)噪音水平，輕松(song)實現(xian)原(yuan)子級分辨率。

2、提供可視化(hua)下針系統，操(cao)作簡(jian)單，對新手友好。

3、提高了(le)掃描速(su)度(du)，10秒(miao)出(chu)圖。

1.標準工作模式：

1.1輕敲模式(Vibration mode)

1.2接觸模式 (Contact mode)

1.3相位成像模式 (Phase imaging)

1.4橫向力模式 (Lateral force Microscopy LFM)

1.5力曲線(xian)測(ce)試（Force curve）可測(ce)楊(yang)氏模量

1.6 納米(mi)操控 （Nanomanipulation）

1.7 納米刻蝕 （Nanolithography）

1.8 力矩陣模式 （Force Mapping）

1.9 摩擦(ca)力測試 （Friction Mode）

2. 可(ke)選(xuan)工作模式：

2.1 磁力顯微鏡(jing)模式（MFM mode）

2.2 靜電(dian)力顯微鏡模式(shi)（EFM mode）

2.3 導電(dian)顯微鏡模式（C-AFM mode）

2.4 液相模式(shi) （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是專(zhuan)門從事(shi)設(she)計和(he)制造原子力顯(xian)(xian)微鏡(jing)的專(zhuan)業化公(gong)司(si) 。公(gong)司(si)創始人是有30年原子力顯(xian)(xian)微鏡(jing)經驗的 Paul West博士，原子力顯(xian)(xian)微鏡(jing)教材《Atomic Forces Microscopes》的作(zuo)者。

掃描范圍：100 μm，50 μm，15μmZ方向范圍：17 μm，7 μmXY方向驅動分辨率：0.01 nmZ方向驅動分辨率：0.003 nmZ方向測量噪音水平：0.03 nm樣品尺寸：直徑25