便攜式原子力顯微鏡工作模式：

1.標準(zhun)工作模(mo)式：

1.1輕(qing)敲模式(Vibration mode)

1.2接觸(chu)模(mo)式(Contact mode)

1.3相位(wei)成像(xiang)模(mo)式(Phase imaging)

1.4橫向力模式(shi)(Lateral force Microscopy LFM)

1.5力曲線(xian)測(ce)試（Force curve）可測(ce)楊(yang)氏模量

1.6納米操控(kong) （Nanomanipulation）

1.7納(na)米刻(ke)蝕 （Nanolithography）

1.8力矩陣(zhen)模式 （Force Mapping）

1.9摩擦(ca)力測(ce)試(shi) （Friction Mode）

2. 可選工作(zuo)模式：

2.1 磁力顯微鏡模(mo)式（MFM mode）

2.2 靜(jing)電力顯微鏡模式（EFM mode）

2.3 導電(dian)顯微鏡模式（C-AFM mode）

2.4 液(ye)相模(mo)式 （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是專門(men)從事設計和制造原子力顯微鏡的專業化公(gong)司(si)(si) 。公(gong)司(si)(si)創始人是有30年(nian)原子力顯微鏡經驗的 Paul West博士，原子力顯微鏡教材《Atomic Forces Microscopes》的作者。

便攜式原子力顯微技術參數

掃描范圍(wei)：100 μm，50 μm，15μm

Z方向(xiang)范圍：17 μm，7 μm

XY方向(xiang)驅(qu)動分辨(bian)率：0.01 nm

Z方向驅動分辨(bian)率(lv)：0.003 nm

Z方向(xiang)測量(liang)噪音水平(ping)：0.15 nm

樣品尺寸：直徑(jing)25mm