葛蘭帕國產版HR-AFM原子力顯微鏡是一款專業級的高分辨率原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區三維形貌和多相結構；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數值測定與分析。

葛蘭帕國產版HR-AFM原子力顯微鏡標準工作模式：

輕(qing)敲模(mo)式(shi)(Vibration mode)，接觸(chu)模(mo)式(shi) (Contact mode)，相位成像(xiang)模(mo)式(shi) (Phase imaging)，橫向力模(mo)式(shi) (LFM)，力曲線測試(shi)（Force Curve），納(na)米(mi)操控 （Nanomanipulation），納(na)米(mi)刻蝕 （Nanolithography），力矩陣(zhen)模(mo)式(shi) （Force Mapping），摩擦力測試(shi) （Friction Mode）

可(ke)選工作(zuo)模式：導電原子力顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing) （C-AFM），磁(ci)力顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)（MFM），靜電力顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)（EFM）,掃描電勢顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)（SKPM）。

設備具(ju)有(you)軟件自動(dong)進針(zhen)功能。通過軟件控制Z方向馬達(da)實現探針(zhen)自動(dong)進針(zhen)。

X,Y,Z三軸分(fen)離(li)的掃描(miao)器。

掃描范圍 100×100×17μm

Z軸分(fen)辨率0.035nm

樣品臺尺寸：25mm*25mm*18mm 

操作軟件：使(shi)用Laview環(huan)境語言控制，免費(fei)提(ti)供(gong)操作軟件，并提(ti)供(gong)維護及升級。提(ti)供(gong)Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 數據分析系(xi)統

頂(ding)視系(xi)統光學分辨(bian)率≤2微(wei)米，視場(chang)范(fan)圍從(cong)2mm*2mm到300um*300um可調(diao)，放大倍(bei)(bei)率從(cong)45倍(bei)(bei)到400倍(bei)(bei)機械可調(diao)。

側視系統，提(ti)供(gong)可(ke)視化下(xia)針(zhen)，可(ke)以通(tong)過(guo)電(dian)腦精確(que)觀(guan)察(cha)控制(zhi)下(xia)針(zhen)過(guo)程，防止撞針(zhen)。