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葛蘭帕 AFMWorkshopTT2-AFM原子力顯微鏡

簡要描述:葛蘭帕 AFMWorkshopTT2-AFM原(yuan)子力顯微鏡 可以在不破壞樣(yang)品內部(bu)結構的情況(kuang)下觀測樣(yang)品微區三維形貌和多相結構(納米級別);同時可對樣(yang)品表面物(wu)理化(hua)學(xue)特性(xing)進行研究,數值測定與分(fen)析。

  • 產品型號(hao):
  • 廠(chang)商(shang)性質:生產廠家
  • 更新(xin)時間:2024-10-10
  • 訪  問  量:6354

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詳細介紹
品牌其他品牌儀器種類原子力顯微鏡
價格區間面議產地類別進口
應用領域食品,化工,生物產業,能源,制藥

TT2-AFM原子力顯微(wei)鏡

1.標(biao)準工作模式:

1.1輕敲模式(Vibration mode)

1.2接觸模式(shi)(Contact mode)

1.3相位成像(xiang)模式(Phase imaging)

1.4橫向力模式(Lateral force Microscopy LFM)

1.5力曲線測試(Force curve)可測楊氏模量

1.6納米(mi)操(cao)控 (Nanomanipulation)

1.7納米刻蝕 (Nanolithography)

1.8力矩(ju)陣(zhen)模式 (Force Mapping)

1.9摩(mo)擦力(li)測試 (Friction Mode)

2. 可選工作模式:

2.1 磁力顯微鏡(jing)模式(MFM mode)

2.2 靜電(dian)力(li)顯微鏡模(mo)式(shi)(EFM mode)

2.3 導(dao)電顯微鏡模式(C-AFM mode)

2.4 液相(xiang)模式 (Liquid scan mode)

AFMWorkshop是專門從事設計和制(zhi)造原子力(li)顯(xian)微鏡(jing)的專業化公(gong)司(si) 。公(gong)司(si)創始(shi)人是有(you)30年(nian)原子力(li)顯(xian)微鏡(jing)經驗的 Paul West博士,原子力(li)顯(xian)微鏡(jing)教材《Atomic Forces Microscopes》的作者。

掃描范圍:100 μm,50 μm,15μmZ方(fang)向范圍:17 μm,7 μmXY方向驅動分辨率(lv):0.01 nmZ方向驅(qu)動分(fen)辨(bian)率:0.003 nmZ方向測量噪(zao)音(yin)水平:0.15 nm樣品尺寸:直徑25mm


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