品牌 | 其他品牌 | 儀器種類 | 原子力顯微鏡 |
---|---|---|---|
價格區間 | 面議 | 產地類別 | 進口 |
應用領域 | 食品,化工,生物產業,能源,制藥 |
TT2-AFM原子力顯微(wei)鏡
1.標(biao)準工作模式:
1.1輕敲模式(Vibration mode)
1.2接觸模式(shi)(Contact mode)
1.3相位成像(xiang)模式(Phase imaging)
1.4橫向力模式(Lateral force Microscopy LFM)
1.5力曲線測試(Force curve)可測楊氏模量
1.6納米(mi)操(cao)控 (Nanomanipulation)
1.7納米刻蝕 (Nanolithography)
1.8力矩(ju)陣(zhen)模式 (Force Mapping)
1.9摩(mo)擦力(li)測試 (Friction Mode)
2. 可選工作模式:
2.1 磁力顯微鏡(jing)模式(MFM mode)
2.2 靜電(dian)力(li)顯微鏡模(mo)式(shi)(EFM mode)
2.3 導(dao)電顯微鏡模式(C-AFM mode)
2.4 液相(xiang)模式 (Liquid scan mode)
AFMWorkshop是專門從事設計和制(zhi)造原子力(li)顯(xian)微鏡(jing)的專業化公(gong)司(si) 。公(gong)司(si)創始(shi)人是有(you)30年(nian)原子力(li)顯(xian)微鏡(jing)經驗的 Paul West博士,原子力(li)顯(xian)微鏡(jing)教材《Atomic Forces Microscopes》的作者。
掃描范圍:100 μm,50 μm,15μmZ方(fang)向范圍:17 μm,7 μmXY方向驅動分辨率(lv):0.01 nmZ方向驅(qu)動分(fen)辨(bian)率:0.003 nmZ方向測量噪(zao)音(yin)水平:0.15 nm樣品尺寸:直徑25mm
掃(sao)一掃(sao) 微信咨(zi)詢
©2024 杭州葛蘭帕科技有限公司 版權所有 技術支持: Sitemap.xml 總訪問量(liang):34342