TT2-AFM原子力顯微(wei)鏡

1.標(biao)準工作模式：

1.1輕敲模式(Vibration mode)

1.2接觸模式(shi)(Contact mode)

1.3相位成像(xiang)模式(Phase imaging)

1.4橫向力模式(Lateral force Microscopy LFM)

1.5力曲線測試（Force curve）可測楊氏模量

1.6納米(mi)操(cao)控 （Nanomanipulation）

1.7納米刻蝕 （Nanolithography）

1.8力矩(ju)陣(zhen)模式 （Force Mapping）

1.9摩(mo)擦力(li)測試 （Friction Mode）

2. 可選工作模式：

2.1 磁力顯微鏡(jing)模式（MFM mode）

2.2 靜電(dian)力(li)顯微鏡模(mo)式(shi)（EFM mode）

2.3 導(dao)電顯微鏡模式（C-AFM mode）

2.4 液相(xiang)模式 （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是專門從事設計和制(zhi)造原子力(li)顯(xian)微鏡(jing)的專業化公(gong)司(si) 。公(gong)司(si)創始(shi)人是有(you)30年(nian)原子力(li)顯(xian)微鏡(jing)經驗的 Paul West博士，原子力(li)顯(xian)微鏡(jing)教材《Atomic Forces Microscopes》的作者。

掃描范圍：100 μm，50 μm，15μmZ方(fang)向范圍：17 μm，7 μmXY方向驅動分辨率(lv)：0.01 nmZ方向驅(qu)動分(fen)辨(bian)率：0.003 nmZ方向測量噪(zao)音(yin)水平：0.15 nm樣品尺寸：直徑25mm