HR-AFM原子力顯微鏡

主要優勢：

1、全新設計的KMD運動學(xue)結構，降(jiang)低了噪音水平，輕松實(shi)現(xian)原子級分辨率。

2、提供(gong)可視(shi)化下針系統，操作簡單，對新手友好。

3、提(ti)高了掃描速(su)度，10秒出圖(tu)。

1.標準工作模式：

1.1輕敲模式(Vibration mode)

1.2接(jie)觸(chu)模式(shi) (Contact mode)

1.3相位(wei)成像模式(shi) (Phase imaging)

1.4橫向力模式(shi) (Lateral force Microscopy LFM)

1.5力曲線測試（Force curve）可測楊氏模(mo)量

1.6 納米操控 （Nanomanipulation）

1.7 納米(mi)刻蝕 （Nanolithography）

1.8 力矩陣(zhen)模(mo)式 （Force Mapping）

1.9 摩(mo)擦(ca)力測試(shi) （Friction Mode）

2. 可(ke)選工作模式：

2.1 磁力顯微鏡模(mo)式（MFM mode）

2.2 靜電力顯微鏡模(mo)式（EFM mode）

2.3 導(dao)電(dian)顯微鏡模式（C-AFM mode）

2.4 液(ye)相模(mo)式(shi) （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是(shi)專門從事(shi)設計(ji)和制(zhi)造原子(zi)力顯微鏡(jing)(jing)的(de)(de)專業化公(gong)司 。公(gong)司創始人是(shi)有(you)30年原子(zi)力顯微鏡(jing)(jing)經驗的(de)(de) Paul West博士，原子(zi)力顯微鏡(jing)(jing)教材《Atomic Forces Microscopes》的(de)(de)作者。

掃描范圍：100 μm，50 μm，15μmZ方向范圍：17 μm，7 μmXY方向驅動分辨率：0.01 nmZ方向驅動分辨率：0.003 nmZ方向測量噪音水平：0.03 nm樣品尺寸：直徑25