簡要描述：簡易型原子(zi)(zi)力顯微鏡是一個(ge)與倒(dao)置(zhi)光(guang)學顯微鏡聯(lian)合的(de)用于(yu)(yu)生命科學和(he)(he)生物材(cai)料樣品(pin)研究顯微鏡。 是一個(ge)針(zhen)式掃描的(de)原子(zi)(zi)力顯微鏡。它包括電子(zi)(zi)控制(zhi)器，光(guang)杠桿光(guang)學探測，光(guang)學顯微鏡，用于(yu)(yu)查看針(zhen)尖和(he)(he)樣品(pin)的(de)位(wei)置(zhi)，獲(huo)取圖像結果和(he)(he)后處理的(de)軟件。該系統具有(you)在原子(zi)(zi)力顯微鏡XY軸上相對(dui)于(yu)(yu)倒(dao)置(zhi)顯微鏡來(lai)定位(wei)樣品(pin)。樣品(pin)臺適用于(yu)(yu)培(pei)養皿，載(zai)玻片和(he)(he)標準AFM樣品(pin)臺.
產品型號：廠(chang)商性質：生產廠家更新時間：2024-10-10訪(fang) 問 量：904| 品牌 | 其他品牌 | 儀器種類 | 原子力顯微鏡 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 面議 | 產地類別 | 進口 |
| 應用領域 | 食品,化工,生物產業,能源,制藥 |
簡易型原子力顯微鏡工作模式：
1.標準工作(zuo)模式：
1.1輕敲(qiao)模式(Vibration mode)
1.2接觸模式(Contact mode)
1.3相位成像模式(Phase imaging)
1.4橫向力模式(Lateral force Microscopy LFM)
1.5力曲線測(ce)試（Force curve）可測(ce)楊氏模(mo)量
1.6納(na)米操控(kong) （Nanomanipulation）
1.7納米刻蝕 （Nanolithography）
1.8力(li)矩陣模式 （Force Mapping）
1.9摩擦力測試 （Friction Mode）
2. 可選工(gong)作模式(shi)：
2.1 磁力(li)顯微鏡模式（MFM mode）
2.2 靜電力顯微(wei)鏡模(mo)式（EFM mode）
2.3 導電顯微鏡模式（C-AFM mode）
2.4 液相模式(shi) （Liquid scan mode）
AFMWorkshop是專(zhuan)門從事設計和制造原(yuan)子(zi)力顯(xian)微(wei)鏡的(de)專(zhuan)業化(hua)公司 。公司創始人是有(you)30年原(yuan)子(zi)力顯(xian)微(wei)鏡經驗(yan)的(de) Paul West博士，原(yuan)子(zi)力顯(xian)微(wei)鏡教材(cai)《Atomic Forces Microscopes》的(de)作者(zhe)。
簡易型原子力顯微鏡技術參數
掃(sao)描范圍：100 μm，50 μm，15μm
Z方向范(fan)圍：17 μm，7 μm
XY方向驅動分辨率：0.01 nm
Z方向(xiang)驅動分辨率：0.003 nm
Z方向測量噪音(yin)水平：0.15 nm
樣品尺寸：直徑25mm
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