緊湊型原子力顯微鏡工作模式：

1.標(biao)準工作模(mo)式：

1.1輕敲模(mo)式(Vibration mode)

1.2接(jie)觸模式(Contact mode)

1.3相位成像模式(shi)(Phase imaging)

1.4橫向力模式(shi)(Lateral force Microscopy LFM)

1.5力曲線測試（Force curve）可測楊氏模量

1.6納米操(cao)控 （Nanomanipulation）

1.7納米刻蝕(shi) （Nanolithography）

1.8力矩(ju)陣(zhen)模式 （Force Mapping）

1.9摩擦力測(ce)試 （Friction Mode）

2. 可選(xuan)工作模式：

2.1 磁力顯(xian)微鏡模式（MFM mode）

2.2 靜電(dian)力顯微鏡模式（EFM mode）

2.3 導電顯微(wei)鏡模式(shi)（C-AFM mode）

2.4 液相模式 （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是專(zhuan)門從事設計和制造(zao)原子力(li)顯(xian)微鏡的專(zhuan)業化(hua)公(gong)司 。公(gong)司創始人是有30年原子力(li)顯(xian)微鏡經驗(yan)的 Paul West博士，原子力(li)顯(xian)微鏡教材《Atomic Forces Microscopes》的作者。

緊湊型原子力顯微鏡技術參數

掃描范圍(wei)：100 μm，50 μm，15μmZ

方向范(fan)圍：17 μm，7 μm

XY方向驅動分辨率：0.01 nm

Z方向驅動分辨率：0.003 nm

Z方向(xiang)測量噪音水(shui)平：0.15 nm

樣品尺寸：直徑25mm