針式掃描原子力顯微鏡主要優勢：

1、全(quan)新(xin)設計的KMD運動學結構，降低(di)了噪音水(shui)平，輕松實現原子級分辨率(lv)。

2、提(ti)供可視化下針系統，操作簡單，對(dui)新(xin)手友好。

3、提高了掃描速(su)度，10秒(miao)出(chu)圖(tu)。

針式掃描原子力顯微鏡工作模式

1.標(biao)準工作模式：

1.1 輕敲模式(Vibration mode)

1.2 接觸模式 (Contact mode)

1.3 相位(wei)成(cheng)像模式 (Phase imaging)

1.4 橫向力模式 (Lateral force Microscopy LFM)

1.5 力(li)曲線測試(shi)（Force curve）可測楊氏模量

1.6 納米操控 （Nanomanipulation）

1.7 納(na)米(mi)刻蝕 （Nanolithography）

1.8 力矩陣模(mo)式(shi) （Force Mapping）

1.9 摩擦力測試 （Friction Mode）

2. 可選工作模式(shi)：

2.1 磁力顯微鏡模式(shi)（MFM mode）

2.2 靜電力顯微鏡模式（EFM mode）

2.3 導(dao)電(dian)顯微鏡模式（C-AFM mode）

2.4 液相模式 （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是(shi)專(zhuan)門從(cong)事(shi)設計和(he)制造原(yuan)子力顯微(wei)鏡(jing)的專(zhuan)業(ye)化(hua)公司 。公司創始人是(shi)有30年原(yuan)子力顯微(wei)鏡(jing)經驗的 Paul West博士，原(yuan)子力顯微(wei)鏡(jing)教材《Atomic Forces Microscopes》的作者。

掃描范圍(wei)：100 μm，50 μm，15μm

方向范圍：17 μm，7 μmXY

方(fang)向驅動分辨率：0.01 nm

方向(xiang)驅動分辨率：0.003 nm

方向測量噪音水平：0.03 nm

樣(yang)品尺(chi)寸：直徑25