HR-AFM是一款專業級的高分辨率原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區三維形貌和多相結構；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數值測定與分析。

國內生(sheng)產的HR-AFM原子(zi)力顯微(wei)鏡

標準工作模(mo)式(shi)：輕敲模(mo)式(shi)(Vibration mode)，接觸模(mo)式(shi) (Contact mode)，相位成像模(mo)式(shi) (Phase imaging)，橫向力(li)模(mo)式(shi) (LFM)，力(li)曲線測試(shi)（Force Curve），納(na)米(mi)操控 （Nanomanipulation），納(na)米(mi)刻蝕 （Nanolithography），力(li)矩陣模(mo)式(shi) （Force Mapping），摩(mo)擦力(li)測試(shi) （Friction Mode）

可選工作模式：導(dao)電(dian)(dian)原子(zi)力(li)顯(xian)(xian)(xian)微(wei)鏡 （C-AFM），磁力(li)顯(xian)(xian)(xian)微(wei)鏡（MFM），靜電(dian)(dian)力(li)顯(xian)(xian)(xian)微(wei)鏡（EFM）,掃(sao)描電(dian)(dian)勢顯(xian)(xian)(xian)微(wei)鏡（SKPM）。

高分辨率原子力顯微鏡具有軟件自動進針功能。通過軟件控制Z方向馬達實現探針自動進針

X,Y,Z三軸分離的掃描器。

掃描范圍(wei) 100×100×17μm

Z軸分辨率0.035nm

樣(yang)品(pin)臺尺寸：25mm*25mm*18mm 

操(cao)作(zuo)軟件(jian)(jian)：使(shi)用Laview環境語(yu)言控制，免費(fei)提(ti)供操(cao)作(zuo)軟件(jian)(jian)，并提(ti)供維(wei)護及升級。

提供Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 數(shu)據分(fen)析系統

頂視系統光(guang)學(xue)分辨率≤2微米

視場范(fan)圍從2mm*2mm到300um*300um可調，放大倍率從45倍到400倍機械可調

側視(shi)系統，提供可視(shi)化下(xia)針，可以(yi)通過電腦精(jing)確觀察控制下(xia)針過程，防止撞針