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葛蘭帕LS-AFM原子力顯微鏡AFMWorkshop

簡要描述：提(ti)供原子(zi)力(li)顯(xian)(xian)微(wei)鏡(jing)定制服務(wu)。葛蘭帕(pa)LS-AFM原子(zi)力(li)顯(xian)(xian)微(wei)鏡(jing)AFMWorkshop是一個(ge)與倒置光學顯(xian)(xian)微(wei)鏡(jing)聯合的(de)(de)用(yong)于(yu)生(sheng)命科(ke)學和(he)生(sheng)物材料樣品(pin)(pin)研究顯(xian)(xian)微(wei)鏡(jing)。是一個(ge)針式掃描的(de)(de)原子(zi)力(li)顯(xian)(xian)微(wei)鏡(jing)。它包括電子(zi)控制器，光杠(gang)桿光學探測(ce)，光學顯(xian)(xian)微(wei)鏡(jing)，用(yong)于(yu)查看(kan)針尖和(he)樣品(pin)(pin)的(de)(de)位(wei)置，獲取圖像結果和(he)后(hou)處(chu)理的(de)(de)軟件。該(gai)系(xi)統具有在原子(zi)力(li)顯(xian)(xian)微(wei)鏡(jing)XY軸上相對于(yu)倒置顯(xian)(xian)微(wei)鏡(jing)來定位(wei)樣品(pin)(pin)。樣品(pin)(pin)臺(tai)(tai)適用(yong)于(yu)培養(yang)皿，載玻(bo)片和(he)標準AFM樣品(pin)(pin)臺(tai)(tai).

產品型號(hao)：
廠(chang)商性質：生產廠家
更新時間：2024-10-10
訪(fang) 問(wen) 量：4420

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原子力顯微鏡

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詳細介紹

品牌	其他品牌	儀器種類	原子力顯微鏡
價格區間	面議	產地類別	進口
應用領域	食品,化工,能源,電子,制藥

葛蘭帕LS-AFM原子力顯微鏡AFMWorkshop工作模式

1. 標(biao)準工作模(mo)式：

1.1 輕敲模式(Vibration mode)

1.2 接觸模式(shi)(Contact mode)

1.3 相位成像(xiang)模式(Phase imaging)

1.4 橫向力模式(shi)(Lateral force Microscopy LFM)

1.5 力曲線測試（Force curve）可測楊氏模(mo)量(liang)

1.6 納米操控(kong) （Nanomanipulation）

1.7 納(na)米刻蝕(shi) （Nanolithography）

1.8 力(li)矩陣模式（Force Mapping）

1.9 摩(mo)擦力測試（Friction Mode）

2. 可(ke)選工作模式：

2.1 磁力顯微鏡模(mo)式（MFM mode）

2.2 靜電力顯微鏡模式（EFM mode）

2.3 導電(dian)顯微(wei)鏡模(mo)式（C-AFM mode）

2.4 液相模式(shi) （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是(shi)專(zhuan)門(men)從事設(she)計和制造原子(zi)力(li)(li)(li)顯(xian)微(wei)(wei)鏡(jing)的(de)專(zhuan)業化公司。公司創(chuang)始人是(shi)有(you)30年原子(zi)力(li)(li)(li)顯(xian)微(wei)(wei)鏡(jing)經驗的(de) Paul West博士，原子(zi)力(li)(li)(li)顯(xian)微(wei)(wei)鏡(jing)教材《Atomic Forces Microscopes》的(de)作者。

葛蘭帕LS-AFM原子力顯微鏡AFMWorkshop技術參數

掃(sao)描范(fan)圍(wei)：100 μm，50 μm，15μm

Z方向范圍：17 μm，7 μm

XY方向驅動分(fen)辨率：0.01 nm

Z方(fang)向驅(qu)動分辨率：0.003 nm

Z方(fang)向測量噪音(yin)水(shui)平：0.15 nm

樣品尺寸：直徑25mm