納米掃描探針顯微鏡工作模式：

1. 標準工(gong)作模(mo)式：

1.1 輕(qing)敲模(mo)式(Vibration mode)

1.2 接(jie)觸模式(Contact mode)

1.3 相位成像模式(Phase imaging)

1.4 橫向力模式(Lateral force Microscopy LFM)

1.5 力(li)曲線測試（Force curve）可測楊(yang)氏模量

1.6 納米操控 （Nanomanipulation）

1.7 納米刻蝕(shi) （Nanolithography）

1.8 力(li)矩陣模式(shi) （Force Mapping）

1.9 摩擦(ca)力測試 （Friction Mode）

2. 可選(xuan)工作模(mo)式：

2.1 磁力顯(xian)微鏡模式（MFM mode）

2.2 靜電(dian)力顯微鏡模(mo)式（EFM mode）

2.3 導電顯微(wei)鏡模式（C-AFM mode）

2.4 液相(xiang)模(mo)式 （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是專門從事設計和制造原(yuan)子力顯(xian)微(wei)鏡(jing)的專業(ye)化公司 。公司創(chuang)始人(ren)是有30年原(yuan)子力顯(xian)微(wei)鏡(jing)經驗的 Paul West博士，原(yuan)子力顯(xian)微(wei)鏡(jing)教材《Atomic Forces Microscopes》的作者。

納米掃描探針顯微鏡技術參數

掃描范圍(wei)：100 μm，50 μm，15μm

Z方向范圍：17 μm，7 μm

XY方向驅動分辨率：0.01 nm

Z方向驅動分(fen)辨率：0.003 nm

Z方向測(ce)量噪音(yin)水平：0.15 nm

樣(yang)品(pin)尺(chi)寸：直徑25mm