肥婆BBBBBBBBB高清视频,国产TS紫迹丝袜高跟鞋在线,大学生自慰喷白浆小免费看,国产精品久久久久精品三级卜蜜臀,国产一级a毛一级a看免费视频

您的位置: 首頁 > 產品中心 > 原子力顯微鏡 > AFM原子力顯微鏡 > 多功能掃描探針顯微鏡

多功能掃描探針顯微鏡

簡(jian)要描述:多功能掃(sao)描探針顯微(wei)鏡HR-AFM是一款專業(ye)級的原子(zi)力顯微(wei)鏡,Z軸噪音低于35皮米。該(gai)設(she)備可以在不破壞樣品(pin)內部結構的情(qing)況下觀測樣品(pin)微(wei)區三維形貌和多相結構;同時(shi)可對(dui)樣品(pin)表(biao)面物理化學特(te)性(xing)進(jin)行研究(jiu),數(shu)值(zhi)測定與分析(xi)。

  • 產(chan)品型號:
  • 廠商性(xing)質:生產廠家
  • 更新時間(jian):2024-10-10
  • 訪  問  量(liang):2832

相關文章

詳細介紹
品牌其他品牌儀器種類原子力顯微鏡
價格區間面議產地類別進口
應用領域食品,化工,生物產業,能源,制藥

HR-AFM多功能掃描探針顯微鏡是一款專業級的原子力顯微鏡,Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區三維形貌和多相結構;同時可對樣品表面物理化學特性進行研究,數值測定與分析。

 

國內生產的HR-AFM原子(zi)力顯(xian)微鏡

標準工作模式:輕敲模式(Vibration mode),接觸模式 (Contact mode),相位成像模式 (Phase imaging),橫向力模式 (LFM),力曲線測試(Force Curve),納米操控 (Nanomanipulation),納米刻蝕 (Nanolithography),力矩陣模式 (Force Mapping),摩擦力測試 (Friction Mode)

可選工作(zuo)模式:導(dao)電原(yuan)子力顯(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡 (C-AFM),磁力顯(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡(MFM),靜電力顯(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡(EFM),掃描電勢顯(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡(SKPM)。

多功能掃描探針顯微鏡具有軟件自動進針功能。通過軟件控制Z方向馬達實現探針自動進針

X,Y,Z三(san)軸分(fen)離的掃描器。

掃(sao)描范圍(wei) 100×100×17μm

Z軸分(fen)辨率(lv)0.035nm

樣(yang)品臺尺寸:25mm*25mm*18mm

操作(zuo)(zuo)軟件:使用Laview環境語言(yan)控制,免費提供操作(zuo)(zuo)軟件,并提供維護及(ji)升(sheng)級(ji)

提供Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 數據(ju)分析系統

頂視系統光學分辨(bian)率≤2微米

視場范圍從2mm*2mm到300um*300um可調,放大倍(bei)率從45倍(bei)到400倍(bei)機械(xie)可調

側(ce)視(shi)系統,提供(gong)可視(shi)化下(xia)針(zhen),可以通過電腦精確觀(guan)察控制下(xia)針(zhen)過程(cheng),防(fang)止(zhi)撞針(zhen)

 

 

 

 

 

 

產品咨詢

留言框

  • 產品:

  • 您的單位:

  • 您的姓名:

  • 聯系電話:

  • 常用郵箱:

  • 省份:

  • 詳細地址:

  • 補充說明:

  • 驗證碼:

    請輸入計算結(jie)果(guo)(填寫(xie)阿拉(la)伯數字),如(ru):三加四=7
Contact Us
  • QQ:
  • 郵箱:
  • 傳真:
  • 地址:杭州市濱江區江南大道3778號元天科技大廈A6004室

掃一掃  微信咨詢

©2024 杭州葛蘭帕科技有限公司 版權所有        技術支持:    Sitemap.xml    總訪問量:34342