多功能原子力顯微鏡是一種高分辨率的顯微成像技術，不僅可以在納米尺度上對樣品表面進行形貌表征，還能研究物質的其他物理性質，如力學特性、磁性、電學性質等。核心部分是一根具有微小尖的懸臂梁（cantilever），其末端裝有探針。當探針靠近樣品表面時，原子之間的相互作用力（包括范德華力、靜電力、磁力等）將引起懸臂梁的偏折。通過激光反射系統或隧道電流方式檢測這種微小的偏折，即可獲得作用于探針上的力的信息。隨后，通過掃描樣品表面并記錄各點的作用力，便可構建出樣品表面的三維形貌圖。
1.高(gao)分辨率(lv)：AFM可以在納(na)米甚至(zhi)亞納(na)米級別上(shang)提(ti)供有(you)關表面(mian)形貌(mao)的詳細信息。
2.多(duo)面(mian)性：除了表面(mian)形(xing)貌外，AFM還可以測量樣品的(de)其他物(wu)理(li)性質(zhi)。
3.適(shi)用性廣：可(ke)在空氣(qi)、液體等(deng)多(duo)種環(huan)境(jing)中工作，適(shi)用于(yu)不同的樣品(pin)類型。
4.無損傷：非侵入式(shi)測量(liang)方式(shi)使得對柔軟(ruan)或脆弱樣品的觀測不會造成損害。
5.操(cao)作(zuo)簡便：相對(dui)于其他顯微技術，AFM的操(cao)作(zuo)更為簡單直觀。
主要功能：
1.表面形貌(mao)成像：最基(ji)本(ben)也是常(chang)用的(de)功能，用于觀察從原子到(dao)微米尺度(du)的(de)表面結構。
2.力學性(xing)質映(ying)射：通過測量(liang)(liang)探針(zhen)與樣(yang)品間的接觸(chu)剛度來獲取局部彈性(xing)模量(liang)(liang)等信息。
3.磁力(li)性能探(tan)測：利(li)用磁性探(tan)針可(ke)以對樣品表面的磁場分(fen)布進行成像(xiang)。
4.電(dian)學(xue)性質(zhi)分析：結合導電(dian)探針，AFM能夠進(jin)行局(ju)部電(dian)流或電(dian)勢(shi)的測量。
5.分子及化(hua)學識別：通過特定的探針修飾，AFM能在分子水(shui)平上識別不同化(hua)學物質。
多功能原子力顯微(wei)鏡的應用(yong)領域：
1.材(cai)料(liao)科學(xue)：研(yan)究各種材(cai)料(liao)的微(wei)觀結構和(he)性質。
2.生(sheng)命(ming)科學：觀察生(sheng)物大分子如(ru)蛋白(bai)質、DNA等的(de)結(jie)構(gou)及(ji)其相互作(zuo)用。
3.數據(ju)存儲：用(yong)于研究(jiu)磁存儲介質(zhi)的表(biao)面磁疇結(jie)構。
4.微電子(zi)學：檢測半導體(ti)器(qi)件的(de)局部電導率(lv)和失效分析(xi)。
5.納米(mi)(mi)加工：利用(yong)AFM探針進行納米(mi)(mi)刻蝕、操縱(zong)和(he)組(zu)裝。
QQ：
郵箱：
傳真：
地址：杭州市濱江區江南大道3778號元天科技大廈A6004室
