什么是AFM探針？

AFM探針，是在掃描隧道顯微鏡探針基礎上發明的一種新的原子級高分辨率儀器，可在大氣、液體環境中檢測納米區材料及樣品的物理特性，也可直接進行納米操作。

1985年，來(lai)自IBM的(de)(de)Binning和(he)Stanford大學的(de)(de)Quate開(kai)發出了AFM探頭，以彌補STM的(de)(de)不足，使之能夠對(dui)任(ren)何樣品(不論是(shi)否導電)表面進行(xing)測量。AFM探頭是(shi)利用(yong)一(yi)端帶有一(yi)小(xiao)點針頭和(he)一(yi)根針尖(jian)(jian)的(de)(de)微懸臂來(lai)取代STM隧道(dao)針尖(jian)(jian)，它是(shi)通(tong)過檢測針尖(jian)(jian)和(he)試樣間的(de)(de)作用(yong)力來(lai)獲(huo)得表面成像(xiang)。

AFM探(tan)針原(yuan)理是什么？

利用(yong)微細探針(zhen)(zhen)對試樣(yang)的(de)表面(mian)進行“摸索"以獲取信(xin)息，原理更為簡單。在靠近試樣(yang)的(de)位(wei)置上，針(zhen)(zhen)尖受(shou)力的(de)影(ying)響，使懸臂(bei)產(chan)生彎(wan)曲或(huo)振幅變化。在測量系(xi)統檢測到(dao)的(de)懸臂(bei)改變之后，將其轉化為電信(xin)號(hao)傳給反饋系(xi)統和成像系(xi)統，在掃描(miao)過程中記錄(lu)一系(xi)列探針(zhen)(zhen)變化，即可得到(dao)樣(yang)品表面(mian)信(xin)息圖(tu)像

AFM探頭的(de)(de)開(kai)發基于STM探頭。其(qi)區別在于，它沒(mei)有(you)利用(yong)電子(zi)(zi)隧道效應，而是利用(yong)原子(zi)(zi)間的(de)(de)范德華(hua)力(li)作用(yong)，呈(cheng)現樣品的(de)(de)表(biao)面性質(zhi)。假定兩個(ge)原子(zi)(zi)分(fen)別位于懸臂處(chu)的(de)(de)探針(zhen)和樣品表(biao)面，兩者(zhe)間的(de)(de)力(li)隨著距離的(de)(de)變(bian)化(hua)而變(bian)化(hua)。

在離原(yuan)(yuan)子(zi)很近的(de)(de)地方，電(dian)子(zi)云斥(chi)力的(de)(de)相(xiang)互影響比原(yuan)(yuan)子(zi)核和(he)電(dian)子(zi)云之間的(de)(de)引力大，因此(ci)，整(zheng)(zheng)個(ge)(ge)合(he)力就會顯示出(chu)斥(chi)力，相(xiang)反(fan)地，如果兩原(yuan)(yuan)子(zi)分開有一段距離，其電(dian)子(zi)云斥(chi)力的(de)(de)作(zuo)用(yong)(yong)小于彼(bi)此(ci)原(yuan)(yuan)子(zi)核和(he)電(dian)子(zi)云之間的(de)(de)吸引力，因此(ci)，整(zheng)(zheng)個(ge)(ge)合(he)力作(zuo)用(yong)(yong)表現(xian)為重力效應。橘(ju)河科技小編告訴大家，AFM探(tan)頭(tou)利用(yong)(yong)了原(yuan)(yuan)子(zi)間的(de)(de)細微關系，將(jiang)原(yuan)(yuan)子(zi)形貌表現(xian)出(chu)來。